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測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網絡點上，故障定位準確。對故障的維修不需較多知識。采用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。
意義
在線測試通常是生產中道測試工序，能及時反應生產制造狀況，利于工藝改進和提升。ICT測試過的故障板,因故障定位準，維修方便，可大幅提高生產效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現(xiàn)代化大生產品質保證的重要測試手段之一。
模擬器件測試
利用運算放大器進行測試。由“A”點“虛地”的概念有：
∵Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0，則Rx可求出。
若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。
1.2 隔離（Guarding）

邊界掃描技術解決了無法增加測試點的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產生測試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉換成測試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復雜測試庫的困難。
用TAP訪問口還可實現(xiàn)對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。
設計技術
Nand-Tree
Nand-Tree是Intel公司發(fā)明的一種可測性設計技術。在我司產品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內此設計。描述其設計結構的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉換成測試向量。
ICT測試要做到故障定位準、測試穩(wěn)定，與電路和PCB設計有很大關系。原則上我們要求每一個電路網絡點都有測試點。電路設計要做到各個器件的狀態(tài)進行隔離后，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設計要安裝可測性要求。

上海東時貿易有限公司是一家以二手led全自動金線邦定設備、二手led焊線固晶設備、二手鋁線邦定機、二手金線焊線機、二手固晶機、二手半導體設備銷售、回收、服務為一體的公司，銷售各款新舊邦定機，品種齊全，價格合理。
一：二手金絲球焊線機有：
1：ks1488，ks8020，ks8028，ks8028s，ks8028ps，ks8028pps，asm339，asm339eg，asmeg60，kjfb131，kjfb137，kjfb700等。全自動二手金絲球焊機主要用于平板式金線焊的邦定,比如：led大功率1w到150w的焊線需求，紅外線接收頭，smdled(貼片發(fā)光二管)，三管，to-92，to-23，ic焊線等等此些產品。
2：ks力系新款connxled自動焊線機，asm339，asm/339eg，asm/eagle60，asm/eagle60v,asm/iahwk-v,asm/ihawk-xtreme,kjfb131，kjfb137，
kjfb800，fb900,fb700自動焊線機
二：二手半導體led前段固晶機，
1：led直插機有asm809-03,asm809a-03，奔達1，奔達2，奔達3，威控，佑光，新益昌668v-05等
2：平面固晶機有（asm809-06，asm809il-08，asm892，asm896，asm820，威控，佑光，新益昌等等此些產品實用led大功率，led貼片發(fā)光二管，紅外線接收頭，smd，ic等等?。。。。?！
三：led大功率點膠機，led大功率壓邊機，led大功率脫離機，6寸擴晶機，led擴晶環(huán)4，6，7，8寸
四：二手led直插分光機，一切機，二切機，自動/半自動灌膠機，烤箱，等等。
我們力求為您
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本產品的加工定制是否，是ASM，型號是AD830，用途是固晶機，別名是固晶機，規(guī)格是100

FrameScan電容藕合測試
FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭，在某個管腳激勵信號，電容性探頭拾取信號。如圖所示：
1 夾具上的多路開關板選擇某個器件上的電容性探頭。
2 測試儀內的模擬測試板（ATB）依次向每個被測管腳發(fā)出交流信號。
3 電容性探頭采集并緩沖被測管腳上的交流信號。
4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的，就會測到信號；如果該管腳脫開，則不會有信號。
GenRad類式的技術稱Open Xpress。原理類似。
此技術夾具需要傳感器和其他硬件，測試成本稍高。
邊界掃描技術
Boundary-Scan邊界掃描技術
ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的，要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使制造費用增高；同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標準。
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