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1.開線掃描(Open Linear Scan)
開線掃描是基本的掃描方式。測頭從起始點(diǎn)開始,沿一定方向并按預(yù)定步長進(jìn)行掃描,直至終止點(diǎn)。開線掃描可分為有、無CAD模型兩種情況。
(1)無CAD模型
如被測工件無CAD模型,先輸入邊界點(diǎn)(Boundary Points)的名義值。打開對話框中的“邊界點(diǎn)”選項(xiàng)后,先點(diǎn)擊“1”,輸入掃描起始點(diǎn)數(shù)據(jù);然后雙擊“D”,輸入方向點(diǎn)(表示掃描方向的坐標(biāo)點(diǎn))的新的X、Y、Z坐標(biāo)值;雙擊“2”,輸入掃描終點(diǎn)數(shù)據(jù)。
第二項(xiàng)輸入步長。在“掃描”對話框(Scan Dialog)中“方向1技術(shù)”(Direction 1 Tech)欄中的“”(Max Inc)欄中輸入一個(gè)新步長值。
檢查設(shè)定的方向矢量是否正確,該矢量定義了掃描開始后測量點(diǎn)表面的法矢、截面以及掃描結(jié)束前一點(diǎn)的表面法矢。當(dāng)所有數(shù)據(jù)輸入完成后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
(2)有CAD模型
如被測工件有CAD模型,開始掃描時(shí)用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊CAD模型的相應(yīng)表面,PC DMIS程序?qū)⒃贑AD模型上生成一點(diǎn)并加標(biāo)志“1”表示為掃描起始點(diǎn);然后點(diǎn)擊下一點(diǎn)定義掃描方向;點(diǎn)擊終點(diǎn)(或邊界點(diǎn))并標(biāo)志為“2”。在“1”和“2”之間連線。對于每一所選點(diǎn),PC DMIS已在對話框中輸入相應(yīng)坐標(biāo)值及矢量。確定步長及其它選項(xiàng)(如安全平面、單點(diǎn)等)后,點(diǎn)擊“測量”,然后點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。

性能特點(diǎn)
1、 X向橫梁:采用精密斜梁技術(shù)。
2、Y向?qū)к墸翰捎锰氐闹苯蛹庸ぴ诠ぷ髋_上的整體下燕尾槽定位結(jié)構(gòu)。
3、導(dǎo)軌方式:采用自潔式預(yù)載荷高精度空氣軸承組成的四面環(huán)抱式靜壓氣浮導(dǎo)軌。
4、驅(qū)動系統(tǒng):采用本產(chǎn)高性能DC直流伺服電機(jī)、柔性同步齒形帶傳動裝置,各軸均有限位和電子控制,傳動更快捷、運(yùn)動性能更佳。
5、Z向主軸:可調(diào)節(jié)的氣動平衡裝置,提高了Z軸的定位精度。
6、控制系統(tǒng):采用進(jìn)口的雙計(jì)算機(jī)三座標(biāo)控制系統(tǒng)。
7、機(jī)器系統(tǒng):采用計(jì)算機(jī)3D誤差修正技術(shù)(CAA),保證系統(tǒng)的長期的穩(wěn)定性和高精度。
8、測量軟件:采用功能強(qiáng)大的3D-DMIS測量軟件包,具有完善的測量功能和聯(lián)機(jī)功能。

儀器簡介
三坐標(biāo)測量儀是指在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi),能夠表現(xiàn)幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器,又稱為三坐標(biāo)測量機(jī)或三坐標(biāo)量床。三坐標(biāo)測量儀又可定義“一種具有可作三個(gè)方向移動的探測器,可在三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動,此探測器以接觸或非接觸等方式傳遞訊號,三個(gè)軸的位移測量系統(tǒng)(如光柵尺)經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)(x,y,z)及各項(xiàng)功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀的測量功能應(yīng)包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等 [1] 。
機(jī)型介紹
結(jié)構(gòu)型式:三軸花崗巖、四面全環(huán)抱的德式活動橋式結(jié)構(gòu)
傳動方式:直流伺服系統(tǒng) + 預(yù)載荷高精度空氣軸承
長度測量系統(tǒng):RENISHAW開放式光柵尺,分辨率為0.1μm
測頭系統(tǒng):雷尼紹控制器、雷尼紹測頭、雷尼紹測針
機(jī) 臺:高精度(00級)花崗巖平臺
使用環(huán)境:溫度(20±2)℃,濕度40%-70% ,溫度梯度1℃/m,溫度變化 1℃/h
空氣壓力:0.4 MPa - 0.6 Mpa
空氣流量:25 L/min
長度精度MPEe: ≤2.1+L/350 (μm)
探測球精度MPEp: ≤2.1μm

閉線掃描(Closed Linear Scan)
閉線掃描方式允許掃描內(nèi)表面或外表面,它只需“起點(diǎn)”和“方向點(diǎn)”兩個(gè)值(PC DMIS程序?qū)⑵瘘c(diǎn)也作為終點(diǎn))。
(1)數(shù)據(jù)輸入操作
雙擊邊界點(diǎn)“1”,在編輯對話框中輸入位置;雙擊方向點(diǎn)“D”,輸入坐標(biāo)值;選擇掃描類型(“線性”或“變量”),輸入步長,定義觸測類型(“矢量”、“表面”或“邊緣”);雙擊“初始矢量”,輸入第“1”點(diǎn)的矢量,檢查截面矢量;鍵入其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
也可使用坐標(biāo)測量機(jī)操作盤觸測被測工件表面的測點(diǎn),然后觸測方向點(diǎn),PC DMIS程序?qū)褱y量值自動放入對話框,并自動計(jì)算初始矢量。選擇掃描控制方式、測點(diǎn)類型及其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
(2)有CAD模型的閉線掃描
如被測工件有CAD模型,測量前確認(rèn)“閉線掃描”;先點(diǎn)擊表面起始點(diǎn),在CAD模型上生成符號“1”(點(diǎn)擊時(shí)表面和邊界點(diǎn)被加亮,以便選擇正確的表面);然后點(diǎn)擊掃描方向點(diǎn);PC DMIS將在對話框中給出所選位置點(diǎn)相應(yīng)的坐標(biāo)及矢量;選擇掃描控制方式、步長及其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
重定位整合
1 、應(yīng)用背景
在產(chǎn)品的測繪過程中,往往不能在同一坐標(biāo)系將產(chǎn)品的幾何數(shù)據(jù)一次測出。其原因一是產(chǎn)品尺寸超出測量機(jī)的行程,二是測量探頭不能觸及產(chǎn)品的,三是在工件拆下后發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)缺失,需要補(bǔ)測。這時(shí)就需要在不同的定位狀態(tài)(即不同的坐標(biāo)系)下測量產(chǎn)品的各個(gè)部分,稱為產(chǎn)品的重定位測量。而在造型時(shí)則應(yīng)將這些不同坐標(biāo)系下的重定位數(shù)據(jù)變換到同一坐標(biāo)系中,這個(gè)過程稱為重定位數(shù)據(jù)的整合。
對于復(fù)雜或較大的模型,測量過程中常需要多次定位測量,終的測量數(shù)據(jù)就必需依據(jù)一定的轉(zhuǎn)換路徑進(jìn)行多次重定位整合,把各次定位中測得的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成一個(gè)公共定位基準(zhǔn)下的測量數(shù)據(jù)。
2 、重定位整合原理
工件移動(重定位)后的測量數(shù)據(jù)與移動前的測量數(shù)據(jù)存在著移動錯(cuò)位,如果我們在工件上確定一個(gè)在重定位前后都能測到的形體(稱為重定位基準(zhǔn)),那么只要在測量結(jié)束后,通過一系列變換使重定位后對該形體的測量結(jié)果與重定位前的測量結(jié)果重合,即可將重定位后的測量數(shù)據(jù)整合到重合前的數(shù)據(jù)中。重定位基準(zhǔn)在重定位整合中起到了紐帶的作用.
PID控制是:比例,積分,微分控制的縮寫。
P參數(shù):決定系統(tǒng)對位置誤差的整個(gè)響應(yīng)過程。數(shù)值越低,系統(tǒng)越穩(wěn)定,不產(chǎn)生振蕩,但剛性差,到位誤差大;數(shù)值越高,剛性越好,到位誤差小,但系統(tǒng)可能產(chǎn)生振蕩。
I 參數(shù):控制由于摩擦力和負(fù)載引起的靜態(tài)到位誤差。數(shù)值越低,到位時(shí)間越長;數(shù)值越高,可能在理論位置上下振蕩。
D參數(shù):此參數(shù)通過阻止誤差變化過沖給系統(tǒng)提供阻尼和穩(wěn)定性。數(shù)值越低,使系統(tǒng)對位置誤差響應(yīng)快;數(shù)值越高,系統(tǒng)響應(yīng)越慢。
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