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上海東時貿(mào)易有限公司高價回收Agilent安捷倫N5182A信號源 高價回收工廠閑置儀器,整批或單出,評估
評估、現(xiàn)金、高價、上門回收進口儀器儀表
網(wǎng)絡(luò)分析儀:E5071C/B/A、E5063A、E5062A、
E5061A/B、8753d/E/ES、
ZVB8、ZNB8、ZVL6、E5080A、N5230A/C、
E8364B等等
頻譜分析儀:N9020A、E440X系列、FSV系列、FSW系列、E444X系列等等
藍牙測試儀:MT8852B/A、MT8850A、N4010A、Q2010,2011,2012等等
信號發(fā)生器:N5182B/A、E8257D、SMU200A、N5183A/B、E4438C、SMBV100A等等
綜合測試儀:CMW500、CMW270、HP8924C、
8921A、IQ系列等等
LCR測試儀:E4980A、4287A、4284A、E4981A、4291A/B、4294A等等
噪聲分析儀:N8973A、N8974A、N8975、N8976B等等
示波器:MSO系列、MDO系列、DPO系列、TDS系列等等
頻率計、萬用表、電源、音頻分析儀、視頻分析儀等
歸一化功能:傳輸/反射測量時,用來消除系統(tǒng)誤差。任何情況下校準均為全頻段校準,全帶(從1MHz-1000MHz)的校準點為500點。
存儲/調(diào)用功能:用來存儲常用的儀器設(shè)置。
打印功能:標準并行輸出接口,配接打印機,可將測試曲線及頻標點的數(shù)據(jù)打印輸出。
平滑功能:消除信號跡線上的噪聲和調(diào)節(jié)掃描速度。
網(wǎng)絡(luò)分析儀,讓測試測量更具體可觀,讓網(wǎng)絡(luò)運行更順暢無阻。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的技術(shù)指標
頻率范圍:是指矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀所能產(chǎn)生和分析的載波頻率范圍。
頻率分辨力:在有效頻率范圍內(nèi)可得到并可重復(fù)產(chǎn)生的小頻率增量。
頻率準確度:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率指示值和真實值的接近程度。
功率準確度:在規(guī)定功率范圍上輸出信號提供給額定阻抗負載的實際功率偏離指示值的誤差。
動態(tài)范圍:為接收機噪聲電平與測試端口輸出電接收機全電平之間較小者之差,是表征矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進行傳輸測量能力的重要指標。
系統(tǒng)幅度跡線噪聲:指矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀顯示器上跡線的幅度穩(wěn)定度,主要取決于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號源和接收機的穩(wěn)定度。
系統(tǒng)相位跡線噪聲:指矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀顯示器上跡線的相位穩(wěn)定度,主要取決于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的信號源和接收機的穩(wěn)定度。
1.測量范圍廣、速度快、精度高
網(wǎng)絡(luò)分析儀工作頻帶寬,高速實時測試,采用嵌入式高速計算機技術(shù),的提高了網(wǎng)絡(luò)分析儀的自動化程度和測試速度,一次掃描即可完成45MHz~40GHz全頻段幅頻特性測量,通過高靈敏度幅相接收機技術(shù)以及數(shù)字信號處理技術(shù),拓展了測試的動態(tài)范圍;雖然測量的范圍和速度不斷,但并不影響測量的精度,網(wǎng)絡(luò)分析儀采用誤差修正技術(shù),能夠減小系統(tǒng)誤差對測量結(jié)果所產(chǎn)生的影響,因此其擁有非常高的測量精度。
2.網(wǎng)絡(luò)故障排和提供網(wǎng)絡(luò)分析方法
通過的網(wǎng)絡(luò)性能分析儀,可以有效的對網(wǎng)絡(luò)中關(guān)鍵鏈路的應(yīng)用運行情況進行監(jiān)測。從多種角度查看應(yīng)用的運行情況;網(wǎng)絡(luò)性能分析儀可直接串接在鏈路當中進行故障診斷,不影響現(xiàn)有網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),無需在網(wǎng)絡(luò)設(shè)備上做任何設(shè)置,靈活部署,便于攜帶到各個環(huán)境進行故障診斷。它對網(wǎng)絡(luò)中所有傳輸?shù)臄?shù)據(jù)進行檢測、分析、診斷,幫助用戶排除網(wǎng)絡(luò)事故,安全風(fēng)險,提高網(wǎng)絡(luò)性能,網(wǎng)絡(luò)可用性價值。
通過以上幾點總結(jié)我們可以看出網(wǎng)絡(luò)分析儀的作用也是很多的,自上個世紀計算機發(fā)明以來,靠譜的網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)就在不斷地發(fā)展和更新,幫助網(wǎng)絡(luò)管理者分析出網(wǎng)絡(luò)的具體故障在哪里,從而對癥下,為人們提供更好更快的網(wǎng)絡(luò)檢修服務(wù)。

gilent E5071B網(wǎng)絡(luò)分析儀
主要技術(shù)指標
· E5071B在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
· E5071B掃描速度:9.6微秒/點
· E5071B跡線噪聲:0.001 dB rms
· E5071B集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
· E5071B夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
· E5071B用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
· E5071B內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
· E5071B測量向?qū)е周浖?nbsp;
Agilent E5071B網(wǎng)絡(luò)分析儀支持廣泛的頻率范圍和眾多功能,提供同類產(chǎn)品中高的射頻性能和快的速度,是制造和研發(fā)評測9 kHz至8.5 GHz射頻元器件和電路的佳工具。
主要技術(shù)指標
.E5071B寬動態(tài)范圍:在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB(典型值)
.E5071B極快的測量速度:39 ms(進行完全雙端口校準,掃描1601點時)
.E5071B低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時)
.E5071B集成的2和4端口,帶有平衡測量能力
.E5071B提供頻率選件:從9 kHz/100 kHz(帶有偏置T型接頭)到3 GHz/8.5 GHz
Agilent E5071B主頻標準為挑剔的實驗室和現(xiàn)場設(shè)備提供了佳的度和穩(wěn)定性。對于平均時間超過的情況,E5071是臺給出其穩(wěn)定度指標的銫標準。針對平均30天的規(guī)范標準,E5071B的性能可確保提供更長時間的校準服務(wù)。
E5071B使用方便。E5071B的自動啟動非常簡單,并且無需調(diào)節(jié)。E5071B的邏輯菜單結(jié)構(gòu)簡化了前面板的操作、選擇和狀態(tài)報告。E5071B可在任何地方進行操作和維護。E5071B的所有控制均是可編程的,可通過遙控方式檢查狀態(tài),而且E5071B在工作期間無需進行校準或調(diào)節(jié)。一旦交流電源出現(xiàn)故障,E5071B的內(nèi)部電池可以備用45分鐘。

Agilent E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀支持廣泛的頻率范圍和眾多功能,提供同類產(chǎn)品中的射頻性能和快的速度,是制造和研發(fā)評測9 kHz至8.5 GHz射頻元器件和電路的工具。
Agilent E5071C主要技術(shù)指標
寬動態(tài)范圍:在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB(典型值)
極快的測量速度:39 ms(進行完全雙端口校準,掃描1601點時)
低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時)
集成的2和4端口,帶有平衡測量能力
Agilent E5071C提供頻率選件:從9 kHz/100 kHz(帶有偏置T型接頭)到4.5 GHz/8.5 GHz
選件:
E5071C—008 頻率偏置模式
E5071C—010 時域分析能力
E5071C—790 測量向?qū)е周浖?br/>E5071C—1E5 高穩(wěn)定度時基
E5071C—240 雙端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245 雙端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—440 4端口測試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—445 4端口測試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280 雙端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285 雙端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—480 4端口測試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—485 4端口測試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭

Agilent 8753D 網(wǎng)絡(luò)分析儀, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性與技術(shù)指標
內(nèi)置S-參數(shù)測試儀
可選時域和掃描諧波測量
具有頻率偏置功能的混頻器測試
可選步進衰減器
可用于全部正向和反向測量的內(nèi)裝S-參數(shù)測試裝置,使您能通過一次連接全面評測元件
優(yōu)異的精度,經(jīng)過全面的校準
可選時域和掃描諧波測量
用頻率偏置能力作混頻器測試
可選步進衰減器,以擴展源輸出功率范圍
通過/失敗測試,內(nèi)插誤差校正,測試序列和用戶定義測試頻率,以提高生產(chǎn)能力
2個立的顯示通道,以同時測量反射和傳輸特性
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