上海東時貿(mào)易有限公司高價回收Agilent安捷倫N5182A信號源 高價回收工廠閑置儀器，整批或單出，評估
評估、現(xiàn)金、高價、上門回收進口儀器儀表
網(wǎng)絡(luò)分析儀:E5071C/B/A、E5063A、E5062A、
E5061A/B、8753d/E/ES、
ZVB8、ZNB8、ZVL6、E5080A、N5230A/C、
E8364B等等
頻譜分析儀:N9020A、E440X系列、FSV系列、FSW系列、E444X系列等等
藍(lán)牙測試儀:MT8852B/A、MT8850A、N4010A、Q2010，2011，2012等等
信號發(fā)生器:N5182B/A、E8257D、SMU200A、N5183A/B、E4438C、SMBV100A等等
綜合測試儀:CMW500、CMW270、HP8924C、
8921A、IQ系列等等
LCR測試儀:E4980A、4287A、4284A、E4981A、4291A/B、4294A等等
噪聲分析儀:N8973A、N8974A、N8975、N8976B等等
示波器:MSO系列、MDO系列、DPO系列、TDS系列等等
頻率計、萬用表、電源、音頻分析儀、視頻分析儀等
Agilent 8753D 網(wǎng)絡(luò)分析儀, 30 kHz 至 3 GHz
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
內(nèi)置S-參數(shù)測試儀
可選時域和掃描諧波測量
具有頻率偏置功能的混頻器測試
可選步進衰減器
可用于全部正向和反向測量的內(nèi)裝S-參數(shù)測試裝置，使您能通過一次連接全面評測元件
優(yōu)異的精度，經(jīng)過全面的校準(zhǔn)
可選時域和掃描諧波測量
用頻率偏置能力作混頻器測試
可選步進衰減器，以擴展源輸出功率范圍
通過/失敗測試，內(nèi)插誤差校正，測試序列和用戶定義測試頻率，以提高生產(chǎn)能力
2個立的顯示通道，以同時測量反射和傳輸特性

Agilent 8720ET 傳輸/反射矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀， 50MHz至20 GHz
描述
Keysight 8720ET矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能以較低的價格實現(xiàn)射頻和微波元件評測。Keysight 8720ET包括集成的合成源、測試裝置和調(diào)諧接收機。內(nèi)置的傳輸/反射（T/R）測試裝置提供正向的全范圍幅度和相位測量。內(nèi)部矢量精度增強技術(shù)包括單端口響應(yīng)和增強響應(yīng)校準(zhǔn)。
Keysight 8720E系列包括3種T/R和3種S-參數(shù)網(wǎng)絡(luò)分析儀，覆蓋范圍為13.5GHz、20GHz和40GHz。
PC連通性軟件
Intuilink是適用于Keysight許多系列儀器的免費PC連通性軟件，可為您提供從PC應(yīng)用軟件至儀器的直接訪問，以進行儀器設(shè)置和測量。有了Intuilink，您就可把較少的時間用于處理儀器數(shù)據(jù)，而把更多時間用于利用和分析數(shù)據(jù)。您可用Intuilink的PC應(yīng)用工具條，容易地把測量數(shù)據(jù)和圖像送入熟悉的PC應(yīng)用程序，如Microsoft Office Excel 和 Word，而只需很少的程序，甚至無需編程。ActiveX控制特性使您能從PC控制儀器，它為測試系統(tǒng)提供內(nèi)置的例程，以實現(xiàn)流程式重復(fù)任務(wù)或復(fù)雜任務(wù)的自動化。儀器和關(guān)鍵PC應(yīng)用程序間的集成從未如此緊密。
50MHz 至20GHz
達 104 dB 的范圍
2個測量通道
4個顯示通道
頻率和功率掃描
快掃描和數(shù)據(jù)傳輸速度
通過/失敗測試，強大的標(biāo)記功能
內(nèi)部使用測試序列的自動化
可選時域分析
85052B 標(biāo)準(zhǔn)機械校準(zhǔn)套件
85052D 經(jīng)濟型機械校準(zhǔn)套件，直流至 26.5 GHz，3.5 
85053B 驗證套件，3.5 
85054B 機械校準(zhǔn)套件
85054D 經(jīng)濟型機械校準(zhǔn)套件
85055A 驗證套件，N 型
85131D 半剛性電纜套件，3.5 毫米（測試端口）至 3.5 毫米
85131F Flexible Cable Set, 3.5  (Test Port) to 3.5
85132F 柔性電纜套件，3.5 （測試端口）至 7 
P11644A 機械校準(zhǔn)套件，12.4 至 18.0 GHz，波導(dǎo)，WR-62
X11644A 機械校準(zhǔn)套件，8.2 至 12.4 GHz，波導(dǎo)，WR-90

Agilent 8753ET 傳輸或反射矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，300 kHz 至 6 GHz
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
300 kHz至3或6 GHz
高達110 dB的范圍
4個顯示通道
頻率和功率掃描
可選時域、諧波測量
描述
Keysight 8753ET矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能以低廉的售價評測射頻器件。Keysight 8753ET包括集成的合成源，測試裝置和調(diào)諧。內(nèi)裝的傳輸或反射（T/R）測試裝置提供正向的全范圍幅度和相位測量。
300kHz 至 3 或 6 GHz
110 dB 范圍
4個顯示通道
頻率和功率掃描
可選時域、諧波測量
85031B Calibration Kit
85092C 射頻電子校準(zhǔn)件（ECal）
85093C RF Electronic Calibration (ECal) Module
85096C RF Electronic Calibration (ECal) Module

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀N5230A主要技術(shù)指標(biāo)
108dB的動態(tài)范圍，0.006dB跡線噪聲
9微秒/點的測量速度，32個通道，16,001點
支持TRL/LRM校準(zhǔn)、晶片上、夾具內(nèi)和波導(dǎo)測量
矢量N5230A描述
安捷倫PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀隸屬于PNA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺，是為滿足通用網(wǎng)絡(luò)分析需求而設(shè)計的。其的功能可以幫助您迅速、簡便、地完成工作。
108dB的動態(tài)范圍及0.004dB的軌跡噪聲
4.5s/點的測量速度，32條測量通道，每條通道多16,001點
支持TRM/LRM校準(zhǔn)，提供的晶片、夾具和波導(dǎo)測量
3.5（插入式）連接件
N5230APNA-L是一款4端口、20GHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。該儀器可用于測量多端口平衡元件，如濾波器、雙工器和RF模塊等。AgilentN5230APNA-L網(wǎng)絡(luò)分析儀配有選件240/245，有助于無線通訊、WLAN、信號完整性、和國防領(lǐng)域的射頻和微波快速了解元件的特性，顯著降低測試成本和提高工作效率。
這款4端口PNA-L具有低跡線噪聲（100kHz帶寬處達0.005dBrms）和高動態(tài)范圍（2GHz時為120dB），可實現(xiàn)更高精度和可重復(fù)操作。此外，安捷倫的可選電子校準(zhǔn)（ECal）模塊也是一種的單連接校準(zhǔn)技術(shù)，它讓可以快速重復(fù)地執(zhí)行高度的校準(zhǔn)工作。使用Ecal，所有的雙端口、三端口和四端口校準(zhǔn)據(jù)稱都將比機械校準(zhǔn)快10倍。
場景一，對高功率放大器的有效測量
要發(fā)揮矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的作用，就要在對高功率放大器進行測量進行相關(guān)調(diào)整。一定要注意測量所需要的信號電平會超出網(wǎng)絡(luò)分析儀的激勵范圍,可能會網(wǎng)絡(luò)分析儀接收機的壓縮電平或燒毀電平,因此再對功率放大器測量時，需要利用網(wǎng)絡(luò)分析儀開放的連接接口,將前置預(yù)放大器安裝在儀表源輸出端和定向耦合器的輸出端,這樣,該放大器引起的系統(tǒng)誤差也可通過端口校準(zhǔn)消除。
場景二，電纜測量中時間誤差修正
網(wǎng)絡(luò)分析儀在測量過程中,激勵源是按照掃描時間的設(shè)置進行,由于電纜測量中的信號脈沖頻率的瞬間變化時可能與網(wǎng)絡(luò)分析儀的預(yù)設(shè)頻率不完全一致,產(chǎn)生由于處在中頻濾波器頻率響應(yīng)曲線的范圍之外而引起的誤差，終造成較大的數(shù)值誤差。所以需要網(wǎng)絡(luò)分析儀使用時，用增加掃描時間和在參考測試通道使用延遲線的方法。
場景三，混頻器、調(diào)諧器和變頻器的測量
網(wǎng)絡(luò)分析儀在射頻變頻元件測量上，可以是針對不同的元件的特點是利用其非線性使輸入/輸出信號發(fā)生頻率的變化。通過對混頻器、單的混頻器件以及濾波器和放大器的射頻前端電路的信號針對性掃描，網(wǎng)絡(luò)分析儀測量過程中通過校準(zhǔn)來消除其系統(tǒng)誤差,保證測量精度。
根據(jù)不同測量場景，采用不同的方法或加裝適當(dāng)?shù)牧慵砀玫剡\用網(wǎng)絡(luò)分析儀，除了對高功率放大器的有效測量、電纜測量中時間誤差修正、混頻器、調(diào)諧器和變頻器的測量常見的場景的適用手法外，網(wǎng)絡(luò)分析儀對非插入式元件、反射測量時還需按具體場景具體分析。
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