上海東時(shí)貿(mào)易有限公司回收各種進(jìn)口二手儀器儀表 檢測(cè)儀器 網(wǎng)絡(luò)分析儀 示波器 廢舊儀器 工廠淘汰閑置儀器 研究所實(shí)驗(yàn)室更新儀器 
     主要回收：Agilen安捷倫, Tektronix泰克, Anritsu安立, Litepoint美國(guó), Spiren博世倫, ABO日本, KEITHILEY吉時(shí)利, YOKOGAWA橫河, KENWOOD建伍, KIKUSUI掬水,HAMEG惠美, HIOKI日置, IWATSU巖崎, FULK福祿克, LeCay力科, konica minolta美能達(dá), Nitsuki, RIGOL普源,PRODIGIT博計(jì),MARCONI馬可尼, Kyoritsu共立, SANWA三和, CON普康, RION理音, GRAPHTEC日?qǐng)D, COSMOS新宇宙, ONOSOKKI小野, ARON安羅, TEXIO德士, EXTECH華儀, Anite安耐特, Maynuo美而諾, KEISOKU GIREN,計(jì)測(cè) Kaise凱世, LEADER力達(dá),Mitutoyo三豐…
主要回收類別：電源表，示波器，,觸摸屏,plc，服務(wù)器，硬盤(pán)，萬(wàn)用表，功率計(jì)，頻率計(jì)，綜合測(cè)試儀，數(shù)據(jù)采集儀，濾波器，激光源，光衰減器，漣漪計(jì)，歐姆計(jì)，頻譜分析儀，網(wǎng)絡(luò)分析儀，三次元，硬度計(jì)，信號(hào)發(fā)生器，誤碼分析儀，藍(lán)牙測(cè)試儀，顯微鏡,型號(hào)板卡，GPIB卡，探頭，等各式進(jìn)口二手儀器儀表
測(cè)量向?qū)е周浖?br/>技術(shù)指標(biāo)
寬范圍：測(cè)試端口上的范圍 > 123 dB（典型值）
快的測(cè)量速度：41 ms，進(jìn)行全雙端口校準(zhǔn)，掃描 1601 點(diǎn)時(shí)
低的跡線噪聲：0.004 dB rms，70 kHz IFBW 時(shí)
特性
內(nèi)置 Visual Basic for Applications（VBA）
強(qiáng)大的分析和誤差校正功能
隨時(shí)升級(jí)所有可用的 ENA 選件
選件配置
E5071C—240 雙端口測(cè)試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245 雙端口測(cè)試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—440 4端口測(cè)試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—445 4端口測(cè)試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280 雙端口測(cè)試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285 雙端口測(cè)試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—480 4端口測(cè)試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—485 4端口測(cè)試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—008 頻率偏置模式
E5071C—010 時(shí)域分析能力
E5071C—790 測(cè)量向?qū)е周浖?br/>E5071C—1E5 高穩(wěn)定度時(shí)基

Agilent E5071C 8.5G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-8.5GHz
：安捷倫 Agilent
Agilent E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了快、的射頻器件測(cè)量能力。其的體系結(jié)構(gòu)通過(guò)減少掃描次數(shù)來(lái)完成多端口測(cè)量，進(jìn)一步提高了測(cè)試吞吐率。
主要技術(shù)指標(biāo)
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
在測(cè)試端口處保持125 dB動(dòng)態(tài)范圍（典型值） 
寬動(dòng)態(tài)范圍：在測(cè)試端口上的動(dòng)態(tài)范圍> 123 dB（典型值） 
極快的測(cè)量速度：39 ms（進(jìn)行完全雙端口校準(zhǔn)，掃描1601點(diǎn)時(shí)） 
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時(shí)） 
集成的2和4端口，帶有平衡測(cè)量能力 
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度：9.6微秒/點(diǎn) 
跡線噪聲：0.001 dB rms 
集成的2、3和4端口，帶有平衡測(cè)量能力 
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式 
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA） 
測(cè)量向?qū)е周浖?br/>主要特性與技術(shù)指標(biāo)
 廣泛的動(dòng)態(tài)范圍：在測(cè)試端口處具有 > 123 dB 的動(dòng)態(tài)范圍（典型值）
極快的測(cè)量速度：全雙端口校準(zhǔn)時(shí)為 41 ms，1601 點(diǎn)
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數(shù)測(cè)試裝置
端口選項(xiàng)：2 端口和 4 端口
平衡測(cè)量能力（4 端口選件）
頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）
內(nèi)置 Visual Basic 應(yīng)用程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言（VBA）

應(yīng)用行業(yè)和領(lǐng)域：
—用戶能夠定制多達(dá)201個(gè)掃描段的掃描條件,無(wú)線通信研發(fā)和生產(chǎn)
—有線電視,功率掃描：以分析諸如放大器等有源設(shè)備  
—電纜.對(duì)數(shù)掃描，以評(píng)估諸如電纜等寬帶設(shè)備
—數(shù)據(jù)通信
—微波射頻器件研發(fā)和生產(chǎn)（例如：功率放大器、濾波器、微型電聲元器件等）
—汽車電子
—科研機(jī)構(gòu)
—器械
 E5062A 通用網(wǎng)絡(luò)分析儀采用現(xiàn)代更新的技術(shù)，具有易于使用的特性和穩(wěn)定的性能，從而能夠進(jìn)行可靠的基礎(chǔ) S 參數(shù)測(cè)量
E5062A選件：
E5062A—150 TR測(cè)試，50Ω系統(tǒng)阻抗
E5062A—175 TR測(cè)試，75Ω系統(tǒng)阻抗
E5062A—250 S參數(shù)測(cè)試，50Ω系統(tǒng)阻抗和擴(kuò)展的功率范圍
E5062A—275 S參數(shù)測(cè)試，75Ω系統(tǒng)阻抗和擴(kuò)展的功率范圍
E5062A—1E1 擴(kuò)展的功率范圍（-45至10dBm）
E5062A—100 增加故障定位和SRL分析功能
E5062A—016 觸摸屏彩色LCD
附件： 校準(zhǔn)件 HP85033D/E (3.5)
校準(zhǔn)件 HP85032B (N型)
校準(zhǔn)件HP85036B（75Ω）

N5230C  PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
產(chǎn)品名稱：PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
產(chǎn)品型號(hào)：N5230C
產(chǎn)品規(guī)格：10 MHz - 20 GHz (選項(xiàng)220/225)
供應(yīng)商名：agilent
附  件：校準(zhǔn)件、平轉(zhuǎn)N頭、說(shuō)明書(shū)、電源線
主要技術(shù)指標(biāo)
N5230C 108  dB的動(dòng)態(tài)范圍，<0.006 dB跡線噪聲
N5230C <9微秒/點(diǎn)的測(cè)量速度，32個(gè)通道，16,001點(diǎn)
N5230C  支持TRL/LRM校準(zhǔn)、晶片上、夾具內(nèi)和波導(dǎo)測(cè)量
 N5230C描述
安捷倫PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀隸屬于PNA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺(tái)，是為滿足通用網(wǎng)絡(luò)分析需求而設(shè)計(jì)的。其的功能可以幫助您迅速、簡(jiǎn)便、地完成工作。
N5230C  108 dB的動(dòng)態(tài)范圍及0.004 dB的軌跡噪聲
N5230C   <4.5 μs/點(diǎn)的測(cè)量速度，32條測(cè)量通道，每條通道多16,001點(diǎn)
N5230C  支持TRM/LRM校準(zhǔn)，提供的晶片、夾具和波導(dǎo)測(cè)量
             3.5 （插入式） 連接件
 N5230C PNA-L是一款4端口、20GHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。該儀器可用于測(cè)量多端口平衡元件，如濾波器、雙工器和RF模塊等。Agilent N5230C PNA-L網(wǎng)絡(luò)分析儀配有選件240/245，有助于無(wú)線通訊、WLAN、信號(hào)完整性、和國(guó)防領(lǐng)域的射頻和微波快速了解元件的特性，顯著降低測(cè)試成本和提高工作效率
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