上海東時貿(mào)易有限公司回收各種進口二手儀器儀表 檢測儀器 網(wǎng)絡分析儀 示波器 廢舊儀器 工廠淘汰閑置儀器 研究所實驗室更新儀器 
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主要回收類別：電源表，示波器，,觸摸屏,plc，服務器，硬盤，萬用表，功率計，頻率計，綜合測試儀，數(shù)據(jù)采集儀，濾波器，激光源，光衰減器，漣漪計，歐姆計，頻譜分析儀，網(wǎng)絡分析儀，三次元，硬度計，信號發(fā)生器，誤碼分析儀，藍牙測試儀，顯微鏡,型號板卡，GPIB卡，探頭，等各式進口二手儀器儀表
歸一化功能：傳輸/反射測量時，用來消除系統(tǒng)誤差。任何情況下校準均為全頻段校準,全帶(從1MHz-1000MHz)的校準點為500點。
存儲/調(diào)用功能：用來存儲常用的儀器設置。
打印功能：標準并行輸出接口，配接打印機，可將測試曲線及頻標點的數(shù)據(jù)打印輸出。
平滑功能：消除信號跡線上的噪聲和調(diào)節(jié)掃描速度。
網(wǎng)絡分析儀，讓測試測量更具體可觀，讓網(wǎng)絡運行更順暢無阻。
矢量網(wǎng)絡分析儀的技術指標
頻率范圍：是指矢量網(wǎng)絡分析儀所能產(chǎn)生和分析的載波頻率范圍。
頻率分辨力：在有效頻率范圍內(nèi)可得到并可重復產(chǎn)生的小頻率增量。
頻率準確度：矢量網(wǎng)絡分析儀頻率指示值和真實值的接近程度。
功率準確度：在規(guī)定功率范圍上輸出信號提供給額定阻抗負載的實際功率偏離指示值的誤差。
動態(tài)范圍：為接收機噪聲電平與測試端口輸出電接收機全電平之間較小者之差，是表征矢量網(wǎng)絡分析儀進行傳輸測量能力的重要指標。
系統(tǒng)幅度跡線噪聲：指矢量網(wǎng)絡分析儀顯示器上跡線的幅度穩(wěn)定度，主要取決于矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源和接收機的穩(wěn)定度。
系統(tǒng)相位跡線噪聲：指矢量網(wǎng)絡分析儀顯示器上跡線的相位穩(wěn)定度，主要取決于矢量網(wǎng)絡分析儀的信號源和接收機的穩(wěn)定度。
1.測量范圍廣、速度快、精度高
網(wǎng)絡分析儀工作頻帶寬，高速實時測試，采用嵌入式高速計算機技術，的提高了網(wǎng)絡分析儀的自動化程度和測試速度，一次掃描即可完成45MHz～40GHz全頻段幅頻特性測量，通過高靈敏度幅相接收機技術以及數(shù)字信號處理技術，拓展了測試的動態(tài)范圍；雖然測量的范圍和速度不斷，但并不影響測量的精度，網(wǎng)絡分析儀采用誤差修正技術，能夠減小系統(tǒng)誤差對測量結(jié)果所產(chǎn)生的影響，因此其擁有非常高的測量精度。
2.網(wǎng)絡故障排和提供網(wǎng)絡分析方法
通過的網(wǎng)絡性能分析儀，可以有效的對網(wǎng)絡中關鍵鏈路的應用運行情況進行監(jiān)測。從多種角度查看應用的運行情況；網(wǎng)絡性能分析儀可直接串接在鏈路當中進行故障診斷，不影響現(xiàn)有網(wǎng)絡結(jié)構，無需在網(wǎng)絡設備上做任何設置，靈活部署，便于攜帶到各個環(huán)境進行故障診斷。它對網(wǎng)絡中所有傳輸?shù)臄?shù)據(jù)進行檢測、分析、診斷，幫助用戶排除網(wǎng)絡事故，安全風險，提高網(wǎng)絡性能，網(wǎng)絡可用性價值。
通過以上幾點總結(jié)我們可以看出網(wǎng)絡分析儀的作用也是很多的，自上個世紀計算機發(fā)明以來，靠譜的網(wǎng)絡分析儀技術就在不斷地發(fā)展和更新，幫助網(wǎng)絡管理者分析出網(wǎng)絡的具體故障在哪里，從而對癥下，為人們提供更好更快的網(wǎng)絡檢修服務。

Agilent E5071C 8.5G射頻網(wǎng)絡分析儀 9kHz-8.5GHz
：安捷倫 Agilent
Agilent E5071C網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結(jié)構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。
主要技術指標
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值） 
寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB（典型值） 
極快的測量速度：39 ms（進行完全雙端口校準，掃描1601點時） 
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時） 
集成的2和4端口，帶有平衡測量能力 
提供頻率選件：從9 kHz/100 kHz（帶有偏置T型接頭）到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度：9.6微秒/點 
跡線噪聲：0.001 dB rms 
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力 
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換 
用于變頻設備的頻率偏置模式 
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA） 
測量向?qū)е周浖?br/>主要特性與技術指標
 廣泛的動態(tài)范圍：在測試端口處具有 > 123 dB 的動態(tài)范圍（典型值）
極快的測量速度：全雙端口校準時為 41 ms，1601 點
低跡線噪聲：70 kHz 中頻帶寬（IFBW）處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數(shù)測試裝置
端口選項：2 端口和 4 端口
平衡測量能力（4 端口選件）
頻率選件：9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz （帶有偏置 T 型接頭）、300 kHz 至 20 GHz（帶有偏置 T 型接頭）
內(nèi)置 Visual Basic 應用程序設計語言（VBA）

矢量網(wǎng)絡分析儀N5230A主要技術指標
108dB的動態(tài)范圍，0.006dB跡線噪聲
9微秒/點的測量速度，32個通道，16,001點
支持TRL/LRM校準、晶片上、夾具內(nèi)和波導測量
矢量N5230A描述
安捷倫PNA-L矢量網(wǎng)絡分析儀隸屬于PNA系列網(wǎng)絡分析儀平臺，是為滿足通用網(wǎng)絡分析需求而設計的。其的功能可以幫助您迅速、簡便、地完成工作。
108dB的動態(tài)范圍及0.004dB的軌跡噪聲
4.5s/點的測量速度，32條測量通道，每條通道多16,001點
支持TRM/LRM校準，提供的晶片、夾具和波導測量
3.5（插入式）連接件
N5230APNA-L是一款4端口、20GHz矢量網(wǎng)絡分析儀。該儀器可用于測量多端口平衡元件，如濾波器、雙工器和RF模塊等。AgilentN5230APNA-L網(wǎng)絡分析儀配有選件240/245，有助于無線通訊、WLAN、信號完整性、和國防領域的射頻和微波快速了解元件的特性，顯著降低測試成本和提高工作效率。
這款4端口PNA-L具有低跡線噪聲（100kHz帶寬處達0.005dBrms）和高動態(tài)范圍（2GHz時為120dB），可實現(xiàn)更高精度和可重復操作。此外，安捷倫的可選電子校準（ECal）模塊也是一種的單連接校準技術，它讓可以快速重復地執(zhí)行高度的校準工作。使用Ecal，所有的雙端口、三端口和四端口校準據(jù)稱都將比機械校準快10倍。
場景一，對高功率放大器的有效測量
要發(fā)揮矢量網(wǎng)絡分析儀的作用，就要在對高功率放大器進行測量進行相關調(diào)整。一定要注意測量所需要的信號電平會超出網(wǎng)絡分析儀的激勵范圍,可能會網(wǎng)絡分析儀接收機的壓縮電平或燒毀電平,因此再對功率放大器測量時，需要利用網(wǎng)絡分析儀開放的連接接口,將前置預放大器安裝在儀表源輸出端和定向耦合器的輸出端,這樣,該放大器引起的系統(tǒng)誤差也可通過端口校準消除。
場景二，電纜測量中時間誤差修正
網(wǎng)絡分析儀在測量過程中,激勵源是按照掃描時間的設置進行,由于電纜測量中的信號脈沖頻率的瞬間變化時可能與網(wǎng)絡分析儀的預設頻率不完全一致,產(chǎn)生由于處在中頻濾波器頻率響應曲線的范圍之外而引起的誤差，終造成較大的數(shù)值誤差。所以需要網(wǎng)絡分析儀使用時，用增加掃描時間和在參考測試通道使用延遲線的方法。
場景三，混頻器、調(diào)諧器和變頻器的測量
網(wǎng)絡分析儀在射頻變頻元件測量上，可以是針對不同的元件的特點是利用其非線性使輸入/輸出信號發(fā)生頻率的變化。通過對混頻器、單的混頻器件以及濾波器和放大器的射頻前端電路的信號針對性掃描，網(wǎng)絡分析儀測量過程中通過校準來消除其系統(tǒng)誤差,保證測量精度。
根據(jù)不同測量場景，采用不同的方法或加裝適當?shù)牧慵砀玫剡\用網(wǎng)絡分析儀，除了對高功率放大器的有效測量、電纜測量中時間誤差修正、混頻器、調(diào)諧器和變頻器的測量常見的場景的適用手法外，網(wǎng)絡分析儀對非插入式元件、反射測量時還需按具體場景具體分析。

Agilent E5071B ENA射頻網(wǎng)絡分析儀，300 kHz至8.5 GHz
主要特性與技術指標
在測試端口處保持125 dB范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?br/>描述
Keysight E5071B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結(jié)構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。
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