成色皆可
付款方式皆可
工作時(shí)間24H
業(yè)務(wù)范圍全國
報(bào)價(jià)方式面議實(shí)物為準(zhǔn)
上海東時(shí)貿(mào)易有限公司高價(jià)回收Agilent安捷倫N5182A信號(hào)源 高價(jià)回收工廠閑置儀器,整批或單出,評(píng)估
評(píng)估、現(xiàn)金、高價(jià)、上門回收進(jìn)口儀器儀表
網(wǎng)絡(luò)分析儀:E5071C/B/A、E5063A、E5062A、
E5061A/B、8753d/E/ES、
ZVB8、ZNB8、ZVL6、E5080A、N5230A/C、
E8364B等等
頻譜分析儀:N9020A、E440X系列、FSV系列、FSW系列、E444X系列等等
藍(lán)牙測試儀:MT8852B/A、MT8850A、N4010A、Q2010,2011,2012等等
信號(hào)發(fā)生器:N5182B/A、E8257D、SMU200A、N5183A/B、E4438C、SMBV100A等等
綜合測試儀:CMW500、CMW270、HP8924C、
8921A、IQ系列等等
LCR測試儀:E4980A、4287A、4284A、E4981A、4291A/B、4294A等等
噪聲分析儀:N8973A、N8974A、N8975、N8976B等等
示波器:MSO系列、MDO系列、DPO系列、TDS系列等等
頻率計(jì)、萬用表、電源、音頻分析儀、視頻分析儀等
Agilent E5071C 8.5G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-8.5GHz
:安捷倫 Agilent
Agilent E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進(jìn)一步提高了測試吞吐率。
主要技術(shù)指標(biāo)
頻率范圍:300 kHz至8.5GHz
在測試端口處保持125 dB動(dòng)態(tài)范圍(典型值)
寬動(dòng)態(tài)范圍:在測試端口上的動(dòng)態(tài)范圍> 123 dB(典型值)
極快的測量速度:39 ms(進(jìn)行完全雙端口校準(zhǔn),掃描1601點(diǎn)時(shí))
低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時(shí))
集成的2和4端口,帶有平衡測量能力
提供頻率選件:從9 kHz/100 kHz(帶有偏置T型接頭)到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度:9.6微秒/點(diǎn)
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?br/>主要特性與技術(shù)指標(biāo)
廣泛的動(dòng)態(tài)范圍:在測試端口處具有 > 123 dB 的動(dòng)態(tài)范圍(典型值)
極快的測量速度:全雙端口校準(zhǔn)時(shí)為 41 ms,1601 點(diǎn)
低跡線噪聲:70 kHz 中頻帶寬(IFBW)處為 0.004 dB rms
集成的 S 參數(shù)測試裝置
端口選項(xiàng):2 端口和 4 端口
平衡測量能力(4 端口選件)
頻率選件:9 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz、100 kHz 至 4.5 GHz/8.5 GHz (帶有偏置 T 型接頭)、300 kHz 至 20 GHz(帶有偏置 T 型接頭)
內(nèi)置 Visual Basic 應(yīng)用程序設(shè)計(jì)語言(VBA)

德國R/S ZND8 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功能介紹:
測試裝置可經(jīng)優(yōu) 48 dB 的功率掃描范圍1 Hz 至 300 kHz 的帶寬超過 100 個(gè)跡線和信道可與所有的網(wǎng)絡(luò)分析儀兼容簡介R&S®ZND 是一款提供 4.5 GHz 的單向測量的基本網(wǎng)絡(luò)分析儀。 用戶可選擇選件以執(zhí)行雙向測量,并將頻率范圍擴(kuò)展到 8.5 GHz 功能與安捷倫E5071C-285一樣
R&S ZND矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是生產(chǎn)測量的理想選擇,如測量手機(jī)無源器件的特性。它可以幫助用戶很容易地進(jìn)行S參數(shù)測試,如測試天線的S11或?yàn)V波器的S21。此外憑借其自身的價(jià)格優(yōu)勢(shì)和易操作性,它也非常適合用作培訓(xùn)儀器。R&S ZND 保證提供高達(dá)120dB的范圍和48dB的功率掃描范圍。此外還提供時(shí)域測量,GPIB接口和handler I/O接口等選件。
12.1寸超大觸摸屏和友好的操作界面使得用戶可以很容易地進(jìn)行測量設(shè)置和結(jié)果分析。所有的儀器功能都可以通過三步以內(nèi)的操作來完成。工具欄和拖拽功能讓儀器的設(shè)置變得更加快捷。R&S ZND還有多標(biāo)簽頁功能來幫助用戶在不同儀器設(shè)置之間進(jìn)行快速切換。軌跡與通道可以任意的組合,即使是復(fù)雜的測量也可以用簡單直接的方式顯示出來。
ZND8 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特點(diǎn)
? 雙端口網(wǎng)絡(luò)分析儀,適合 100 kHz 至 4.5 GHz 頻率范圍內(nèi)的單向測量
? 頻率范圍可擴(kuò)展至 8.5 GHz
? 可將測試裝置升級(jí)成雙向測量
? 觸摸屏操作
? 范圍高達(dá) 120 dB
? 功率掃描范圍高達(dá) 48 dB
? 帶寬從 1 Hz 到 300 kHz
? 超過 100 條軌跡和通道
? 與羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀兼容

Agilent N5247A PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
10 MHz 至 67 GHz
2 端口或 4 端口,具有兩個(gè)內(nèi)置信號(hào)源
可提供 4 端口 110 GHz 單次掃描解決方案
110 dB 系統(tǒng)范圍,32001 個(gè)點(diǎn),32 個(gè)通道,5 MHz 中頻帶寬
高輸出功率(67 GHz時(shí)功率為+10 dBm)和寬功率掃描范圍( dB)
67 GHz、+11 dBm 時(shí),接收機(jī)壓縮精度為 0.1 dB
描述
全球更廣泛的單次連接測量應(yīng)用軟件
PNA-X 網(wǎng)絡(luò)分析儀是全球功能更全、更靈活的單次連接微波測試引擎,可測量放大器、混頻器和頻率轉(zhuǎn)換器等有源器件。目前它提供以下五種頻率型號(hào)選擇:13.5、26.5、43.5、50 和 67 GHz,可滿足您特定的器件測試需求。PNA-X 具有內(nèi)置的個(gè)信號(hào)源、合路器和內(nèi)部信號(hào)路由開關(guān),能夠提供的可配置性。
取代機(jī)架和堆疊
使用 PNA-X,您可以通過取代機(jī)架和堆疊來減少設(shè)備數(shù)量。
應(yīng)用軟件包括:
S 參數(shù)(連續(xù)波和脈沖)
噪聲系數(shù)
增益壓縮
互調(diào)和諧波失真
轉(zhuǎn)換增益/損耗
差分激勵(lì)
毫米波
天線測試
選擇應(yīng)用選件
比較所有的安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀(ENA、PNA、FieldFox

N5230C PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
產(chǎn)品名稱:PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
產(chǎn)品型號(hào):N5230C
產(chǎn)品規(guī)格:10 MHz - 20 GHz (選項(xiàng)220/225)
供應(yīng)商名:agilent
附 件:校準(zhǔn)件、平轉(zhuǎn)N頭、說明書、電源線
主要技術(shù)指標(biāo)
N5230C 108 dB的動(dòng)態(tài)范圍,<0.006 dB跡線噪聲
N5230C <9微秒/點(diǎn)的測量速度,32個(gè)通道,16,001點(diǎn)
N5230C 支持TRL/LRM校準(zhǔn)、晶片上、夾具內(nèi)和波導(dǎo)測量
N5230C描述
安捷倫PNA-L矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀隸屬于PNA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺(tái),是為滿足通用網(wǎng)絡(luò)分析需求而設(shè)計(jì)的。其的功能可以幫助您迅速、簡便、地完成工作。
N5230C 108 dB的動(dòng)態(tài)范圍及0.004 dB的軌跡噪聲
N5230C <4.5 μs/點(diǎn)的測量速度,32條測量通道,每條通道多16,001點(diǎn)
N5230C 支持TRM/LRM校準(zhǔn),提供的晶片、夾具和波導(dǎo)測量
3.5 (插入式) 連接件
N5230C PNA-L是一款4端口、20GHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。該儀器可用于測量多端口平衡元件,如濾波器、雙工器和RF模塊等。Agilent N5230C PNA-L網(wǎng)絡(luò)分析儀配有選件240/245,有助于無線通訊、WLAN、信號(hào)完整性、和國防領(lǐng)域的射頻和微波快速了解元件的特性,顯著降低測試成本和提高工作效率
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